Notions abordées :
- Principe de l’ellipsométrie, ellipsométrie par extinction
- Polarisation de la lumière, identification des axes rapide et lent d’une lame à retard de phase
- Détermination des angles ellipsométriques d’un matériau
- Mesure des indices d’un substrat de silicium (n et k)
- Mesure de l’indice (n) et de l’épaisseur (e) d’une monocouche de SiO2 sur substrat de silicium
- Mesure des indices d’un métal – Aluminium (n et k)
- Mesure des indices du verre (n et k)
- Etude des conséquences d’une variation de l’angle d’incidence sur les indices d’un échantillon
- Etude de l’effet d’un changement de longueur d’onde sur n et e
- Mise en évidence de l’influence d’une erreur de mesure sur les valeurs de n, k et e.
TP Ellipsométrie
SKU : T9620
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Tous nos TP sont proposés "clés en main" : matériels + fascicules d'expériences et résultats
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Possibilité de commander chaque élément séparément ou d'obtenir une offre "sur mesure"
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Offre de prix / compléments d'informations : info@didaconcept.fr
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Fiches détaillées des produits : rendez-vous à la rubrique "Ressources"
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