TP Ellipsométrie

Notions abordées :

  • Principe de l’ellipsométrie, ellipsométrie par extinction
  • Polarisation de la lumière, identification des axes rapide et lent d’une lame à retard de phase
  • Détermination des angles ellipsométriques d’un matériau
  • Mesure des indices d’un substrat de silicium (n et k)
  • Mesure de l’indice (n) et de l’épaisseur (e) d’une monocouche de SiO2 sur substrat de silicium
  • Mesure des indices d’un métal – Aluminium (n et k)
  • Mesure des indices du verre (n et k)
  • Etude des conséquences d’une variation de l’angle d’incidence sur les indices d’un échantillon
  • Etude de l’effet d’un changement de longueur d’onde sur n et e
  • Mise en évidence de l’influence d’une erreur de mesure sur les valeurs de n, k et e.

TP Ellipsométrie

SKU : T9620
    • Tous nos TP sont proposés "clés en main" : matériels + fascicules d'expériences et résultats

    • Possibilité de commander chaque élément séparément ou d'obtenir une offre "sur mesure"

    • Offre de prix / compléments d'informations : contact@didaconcept.com

    • Fiches détaillées des produits  : rendez-vous à la rubrique "Ressources"